電路板測(cè)試探針是用于檢測(cè)電路板上的連接性和功能性的關(guān)鍵工藝設(shè)備，以下是對(duì)它的具體介紹：

1. 基本定義：電路板測(cè)試探針是一種精密的電子元件，主要用于半導(dǎo)體（IC）及電路板（PCB）的測(cè)試領(lǐng)域，它們被安裝在插座或夾具內(nèi)部，通過與被測(cè)物和測(cè)試基板的連接，傳輸電流和頻率來判定被測(cè)物是否合格。

2. 主要用途：在半導(dǎo)體測(cè)試中，探針用于晶圓/芯片引腳或錫球與測(cè)試機(jī)之間的精密連接，實(shí)現(xiàn)信號(hào)傳輸以檢測(cè)產(chǎn)品的導(dǎo)通、電流、功能和老化情況等性能指標(biāo)，在PCB測(cè)試中，探針用于檢測(cè)電路板的導(dǎo)通測(cè)試，也可以用于已經(jīng)貼裝了器件的實(shí)物板（ICT\FCT）檢測(cè)。

3. 結(jié)構(gòu)組成：電路板測(cè)試探針一般由針頭、針尾、彈簧、針管四個(gè)基本部件組成，這些部件都是由精密儀器鉚壓預(yù)壓之后形成。根據(jù)測(cè)試環(huán)境以及測(cè)試產(chǎn)品的種類不同，對(duì)探針的要求也不同，包括探針外管和探針針頭的鍍金厚度，以及彈簧的材質(zhì)等。

4. 種類劃分：電路板測(cè)試探針主要分為單動(dòng)針和雙動(dòng)針兩種類型。雙動(dòng)針可以實(shí)現(xiàn)比較大的壓測(cè)行程，生產(chǎn)效率更高，但接觸阻抗發(fā)生的點(diǎn)較多，電阻值偏高；單動(dòng)針可以實(shí)現(xiàn)一些長(zhǎng)度較短的定制產(chǎn)品，并且接觸阻抗的點(diǎn)比較少，電阻值相對(duì)低。

總的來說，電路板測(cè)試探針在現(xiàn)代電子設(shè)備制造中起著至關(guān)重要的作用，它不僅保證了電路板的質(zhì)量和可靠性，還提高了生產(chǎn)效率，降低了成本。對(duì)于電子產(chǎn)品制造商來說，選擇合適的測(cè)試探針是確保產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵步驟。