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測試探針的頭部發(fā)黑是什么原因呢?

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測試探針的頭部發(fā)黑可能是由于以下原因?qū)е碌模?br/>

1.  氧化:測試探針的頭部可能會因為長時間暴露在空氣中而發(fā)生氧化反應(yīng),導(dǎo)致表面出現(xiàn)黑色氧化物,這種情況通常發(fā)生在金屬探針上。

2.  污染:測試探針的頭部可能會被污染物覆蓋,例如灰塵、污染物,這些污染物可能會導(dǎo)致探針頭部變黑。

3.  高溫:如果測試探針在高溫環(huán)境下使用或存儲,其頭部可能會因為熱膨脹而變形,導(dǎo)致表面出現(xiàn)黑色痕跡。

4.  磨損:長期使用測試探針可能會導(dǎo)致其頭部磨損,從而產(chǎn)生黑色痕跡。

5.  質(zhì)量問題:如果測試探針的質(zhì)量不好,例如材料不均勻或者制造過程中存在缺陷,也可能導(dǎo)致其頭部變黑。

6.電流:是否電流過大造成的

深圳市華榮華電子科技有限公司秉承“誠實守信 ,攜手共贏,以客戶需求為導(dǎo)向,堅持做價格厚道的好產(chǎn)品”為企業(yè)文化;將質(zhì)量視為企業(yè)的生命。始終堅持“以質(zhì)量為根本,堅持做價格厚道的好產(chǎn)品”的經(jīng)營使命;不斷滿足市場需求,與廣大客戶攜手合作,誠實守信 ,攜手共贏,堅持以客戶需求為導(dǎo)向,共創(chuàng)美好未來!

測試探針按結(jié)構(gòu)如何分類

測試探針按結(jié)構(gòu)如何分類

測試探針按結(jié)構(gòu)如何分類?從結(jié)構(gòu)來看,常見的探針類型主要包括彈性探針、懸臂式探針和垂直式探針?! 椥蕴结槨 椥蕴结樣陕菪龔椈蓛啥颂捉釉谏舷轮ㄉ希菪龔椈芍虚g部分緊密纏繞(防止高頻信號產(chǎn)生附加電感和附件電阻),兩端部分稀疏纏繞(可形變減少彈簧剛度對測試件的壓強(qiáng)),檢測集成電路時,信號從下柱栓向上形成導(dǎo)電路徑?! 冶凼教结槨 冶凼教结槥榻栌蓹M向懸臂提供探針針部在接觸待測半導(dǎo)體產(chǎn)品時適當(dāng)?shù)目v向位移,以避免探針針部施加于待測半導(dǎo)體產(chǎn)品的針壓過大?! 〈怪笔教结槨 〈怪笔教结樋蓪?yīng)高密度信號接點的待測半導(dǎo)體產(chǎn)品的細(xì)間距排列,并借由針體本身的彈性變形提供針尖在接觸待測半導(dǎo)體產(chǎn)品所需的縱向位移?! ∩钲谑腥A榮華電子科技有限公司經(jīng)多年發(fā)展,已經(jīng)穩(wěn)步成為國內(nèi)測試探針集研發(fā)、生產(chǎn)銷售于一體的專業(yè)公司。華榮華現(xiàn)有員工10

2024-04-10

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